1.自動凝點、傾點測定儀QY-DRT-1117A自動凝點、傾點測定儀QY-DRT-1117A

本儀器以家標準GB/T 510、GB/T 3535-2008為依據，采用多個單片機組成的主控件，自動制冷、 自動恒溫、自動檢測，并自動打印輸出結果， 可自動成石油產品傾點/凝點的測試， 本儀器采用的液面檢測可檢測到液面的微小變化，德丹佛斯口壓縮機制冷系統確保達到要求的制冷深度。不易損壞。采用干式阱形冷浴箱，滯后性小、降溫快，不需要其它冷卻介質，方便使用和維護。采用性能紅外線檢測，檢測靈敏度，可靠性強。

本儀器結構合理，性能穩定，操作簡單，是理想的分析檢測設備。

產品用途：用于深色石油產品、原油及其他透明或半透明石油產品產品傾點、凝點分析。
二、符合標準：GB/T 3535-2006  GB/T510
三、參數：
1、測溫范圍：-40～60℃；分辨率 0.1℃和-68～60℃；分辨率 0.1℃

3、測試樣品數：2路，分別傾斜。

4、測溫元件：PT100(德JUMO公司測溫傳感器)

5、檢測方式：上置式光電液面檢測器試樣自動傾斜(美口紅外檢測器)

6、制冷方式：單壓縮機制冷（法DANFOS）

7、檢測間隔：由用戶設定（1～10℃）

8、冷卻方式：風冷（干式阱形冷浴箱）

9、 打    ?。?0列漢字點陣打印，儀器內置微型熱敏打印機，其打印更安靜、快速、清晰。實驗結果可以自動打印。

10、顯    示：7寸彩色液晶觸摸屏，圖文顯示細膩無鋸齒，顏色艷麗，顯示分辨率；塑料注塑的體化顯示屏面框美觀大方；中文操作界面，顯示直觀。同時，具備限管理能，有效避免非業人員對本測定儀關鍵參數行設定。

11、環境溫度：10～35℃

12、環境濕度：30%～80% RH

13、電    源：AC220士10％V 50Hz士2Hz       率：小于 1500kw
四、 主要點：
1、該儀器采用分體式結構，*消除震動對絮狀物的破壞及對測試數據的影響。

2、該儀器配備的上置式光電液面檢測器可檢測到試樣傾斜時水平液面的微弱變化，凝點/傾點判斷。

3、該儀器采用了微傾斜，在緩慢傾斜的過程中，旦檢測到液面有移動，立刻停止傾斜，恢復垂直狀態，而不在多次傾斜后將試管取出行加熱。

4、自動控制，冷卻介質與被測試樣的溫差，保證降溫速度受控且均勻穩定。

5、內置微型加熱器使試樣快速升溫，而不將冷卻介質的溫度加熱的過。

6、內RS-232C 標準接口電路，可與PC機連接；也可以連接LIMS系統

2.半導電橡塑材料電阻溫測試架/電阻溫測試架 型號：HHY8-DB-4/DB-5

測試架是與本公司的HHY8-DB-4型電線電纜半導電橡塑電阻測試儀的配套產品。HHY8-DB-4儀器是檢測半導電橡塑材料在23°C時的電阻率值，配上本測試架后可以擴展能，將本測試架放入烘箱，可以檢測該材料在0~180°C溫下，電阻率變化值。

本測試架有以下點：

1、  性能符合標GB3048.3要求，具有標準尺寸的電電、電壓電，及加壓系統，樣品盒緣強度大于10¹²Ω。

2、   投資少具有標準接口，能與HHY8-DB-4型電線電纜半導電橡塑電阻儀配套使用，能滿足新老用戶的要求，凡以前已購買了HHY8-DB-4儀器的用戶不再買儀器烘箱了，應用原有儀器設備省錢省事。

3、   作可靠，作溫度范圍大采用強度緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續長期作，為研究分子材料在90~120°C乃至180°C溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。

4、   操作簡單，使用方便，壽命長。

附注：HHY8-DB型電線電纜半導電橡塑電阻測試儀于1985年通過鑒定，是依照標GB3048.3-83的要求行的，在20多年運用中，儀器幾經改，又有200多家電纜廠、粒廠、研究所、大學購買了本儀器，經過漫長歲月的考核使用后，實踐充分證明本儀器，測量度，性能穩定可靠，使用操作方便，是內*符合GB3048.3要求的儀器，深受內外各交聯電纜廠，分子材料廠，半導電橡膠廠，校研究所的歡迎，是半導電材料體電阻率性能研究時的儀器設備

3.電線電纜半導電橡塑電阻測試儀/電阻測試儀 型號：HHY8-DB-4

HHY8-DB-4電線電纜半導電橡塑電阻測試儀是根據家標準GB3048.3—94研究成的測量設備，主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，若換上殊的四端子測試夾，還可以對金屬導體材料及產品的低、中值電阻行測量

經過了十多年的實際運行，近百家主要電纜廠和半導電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前*符合家標準GB3048.3-94的測量半導電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺式結構，主要由電氣箱、測試架兩大分組成，固定在用作臺上，電氣箱包括靈敏的直數字電壓表和穩定的直恒源，測量結果采用LED數字直接顯示，測量電輸出也采用LED數字顯示，從0—100mA范圍內可意調節，可達到控制測試率損耗的規定，儀器測試架由電、壓力探頭、樣品臺及電動傳動機構組成，操作按鍵電鈕，可行半自動測量。

   儀器具有測量度、穩定性好、結構緊湊、使用方便等點，符合際和家標準的要求。

   儀器適用于電纜廠、導電橡塑材料廠、計算機廠、電子表廠、等院校、研究等，對于導電橡塑材料及產品的電阻性能測試、檢測，是需的測試設備。

   儀器主要標：                                                           

、 測量范圍：10^-4--10³Ω-cm可擴展到10⁵Ω-cm；分辯率10^-6Ω-cm

二、 數字電壓表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3．  顯示3 1/2 位數字顯示0—1999具有性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。

三、 恒源：

1．  電輸出：直電0—100mA連續可調，由交電源供給，數字顯示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  電誤差：±(0.5%讀數+2字)

四、 測量電：

1．  電電：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個電電間的距離110mm

2．  電位電：寬度50mm，接觸半徑，兩個電位電間的距離20mm±2%

  五、電源：220±10%   50HZ或60HZ 率消耗<50W

六、外形尺寸（包括測試作臺）1200×600×1050mm（長×寬×)

4.二探針單晶硅及多晶硅測試儀　型號：HHY8-GL-1

本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和。

    為適應大規模集成電路的迅猛發展，別是計算機芯片、內存的發展，越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前，在美、德等的業家，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美ASTM 《“F391-77”關于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而步判斷半導體材料的性能，導和監視操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量度、穩定性好、結構緊湊、使用方便、型美觀等點。也可以配四探針測試頭作常規的四探針法測量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三分，儀表電氣控制箱由靈敏度直數字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩定度恒源和電氣控制分組成。測量結果由大型LED數字顯示，零位穩定、輸入阻抗，并設有自校能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數修正能，從面板輸入相應的修正系數，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，型美觀，可以方便地固定好大小意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步測量，也可以自由選擇固定位置測量，電活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量度、游移率小、耐磨、使用壽命長點。同時探頭壓力恒定并且可調整，以適合不同的材料。

儀器主要標：

1.可測硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長度：100~1100mm.

2.測量方式：軸向測量，每隔10mm測量點。

3.測量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴展到10⁵Ω-cm。

4.數字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測量誤差：±0.3%讀數±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>10⁶Ω

                  20mV檔及以上>10⁸Ω

    （4）顯    示：3^1/2位LED數字顯示，范圍0~1999。

5.恒源：

    （1）電輸出：直電0~100mA連續可調。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電誤差：±0.3%讀數±2字

6.二探針測試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調

    （4）測試探頭自動升降

7.二探針測試臺

    （1）測試硅單長度：100-1100mm

    （2）測試點間距：10mm

    （3）測試臺有慢、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻

手動）

8.電源：交220V±10%，50HZ±2HZ，消耗率<150W

5.數字式四探針測試儀/四探針測試儀/數字式四探針檢測儀　型號：HHY8-SZT-2000

HHY8-SZT-2000型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的需儀器。

儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大分，用戶可以根據測試需要安放在般作臺或者用作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由靈敏的直數字電壓表和穩定的恒源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能行校驗。

儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、研究、等院校，對半導體材料的電阻性能測試及檢測。

儀器主要標：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4．  數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數字顯示，0—1999

具有性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示

5．  恒源：（1）電輸出：直電0—100mA連續可調，由交電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電誤差：±（0.3%讀數+2字）

6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調

  7. 測試架：

  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調，探頭下降時間1S—99S可調，壓力恒定可調（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。

   8.電：220V±10% 50HZ或60HZ：率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

溫馨提示：以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的